邀请函 | GPM-3 研磨抛光材料大会

2026 年 4 月 15 日至 16 日，光起科技将参加在河南郑州举办的 GPM-3 研磨抛光材料大会，并于 D5 展位 展示面向液体颗粒计数、粒度分析及应用评估的相关产品与方案。

本次参展，光起科技将围绕半导体CMP Slurry场景，集中展示公司在液体颗粒检测方向的产品布局与技术能力，为颗粒风险识别、工艺优化、过滤评估及质量控制提供更贴近实际需求的支持。

展出产品

Acona LE Mini 在线液体颗粒计数器
 适用于在线或近线液体颗粒监测场景，可用于连续过程中的颗粒变化观察与趋势判断，适合对过程稳定性和关键节点颗粒风险进行持续关注的应用需求。

Acona A7000 AD 自动稀释颗粒计数仪
 面向需进行稀释测试的复杂液体样品，可用于颗粒计数及粒度分布分析，适合过滤前后对比、批次差异观察及多类液体样品的颗粒评估工作。

Acona A7000 APS 全自动计数粒度仪
 基于单颗粒光学传感技术，可用于液体样品中的颗粒计数与粒度分析，适用于关注大颗粒、异常颗粒及尾部分布变化的测试场景，在 CMP Slurry、乳剂及其他复杂液体样品中具有较强的应用适配性。

应用方向

光起科技长期聚焦液体颗粒计数、粒度分析与应用方案，持续推进单颗粒光学传感技术在不同液体体系中的工程化应用。围绕高浓度样品、复杂基体样品及对大颗粒风险较为敏感的场景，公司已形成覆盖实验室检测、自动稀释测试与在线监测的产品组合，可服务于制药、半导体、功能液体、精密制造及科研实验等多类应用方向。

在半导体与研磨抛光材料相关应用中，颗粒的数量、粒径分布及异常大颗粒情况，往往直接关系到过滤效果、浆料稳定性及后续工艺表现。光起科技希望借助本次大会，与更多行业客户、合作伙伴及技术人员展开交流，探讨液体颗粒检测在实际工艺控制中的应用价值。

展会信息

会议名称：GPM-3 研磨抛光材料大会

展会时间：2026 年 4 月 15 日—16 日

展会地点：河南 · 郑州

展位号：D5